1月7日から10日にタイで開催されたIWAIT2018に本研究室から
B4神本と、B4村瀬が参加しました。
神本は、「A Performance Evaluation of Defect Detection by using Denoising AutoEncoder Generative Adversarial Networks」
村瀬は、「Near-IR Material Discrimination Method by Using Multidimensional Response Variables PLS Regression Analysis」
というタイトルでそれぞれ発表しました。
発表風景

発表論文
A Performance Evaluation of Defect Detection by using Denoising AutoEncoder Generative Adversarial Networks
神本恭佑, Proceedings of International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2018) (2018)

Near-IR Material Discrimination Method by Using Multidimensional Response Variables PLS Regression Analysis
村瀬王哉, Proceedings of International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2018) (2018)