VIEW2017
12月7日、8日にパシフィコ横浜で開催されたViEW2017にM1山田,M1中塚が参加しました。
中塚は「少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と不良判別」
というタイトルで発表しました。
中塚はショートオーラルとポスターで発表させていただきました。
多数の方が研究を聞いてくださり、小田原賞を受賞させていただきました。
賞状
受賞した中塚君


発表論文
少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と不良判別
中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人, ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2017, pp.148-149 (2017)(小田原賞受賞、2017年12月8日)