VIEW2017

12月7日、8日にパシフィコ横浜で開催されたViEW2017にM1山田，M1中塚が参加しました。 中塚は「少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と不良判別」
というタイトルで発表しました。
中塚はショートオーラルとポスターで発表させていただきました。
多数の方が研究を聞いてくださり、小田原賞を受賞させていただきました。

賞状