中塚 俊介 Shunsuke Nakatsuka
学会誌
[1] 中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人:"少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と異常検出", 精密工学会誌, Vol.84, No.12, pp.1071-1078 (2018)
[2] 安藤正規, 中塚俊介, 相澤宏旭, 中森さつき, 池田敬, 森部絢嗣, 寺田和憲, 加藤邦人, "深層学習(Deep Learning)によるカメラトラップ画像の判別", 哺乳類科学, Vol.59, No.1, pp.49-60 (2019)
[3] 中塚俊介, 加藤邦人:"多重解像度マップを持つ補集合GANを用いた正常データのみの学習による異常品検出", 精密工学会誌, Vol.87, No.1, pp.120-126 (2021)
[4] 林良和, 相澤宏旭, 中塚俊介, 加藤邦人:"Fourier-Convolutional PaDiMによる異常検知", 精密工学会誌, Vol.89, No.12, pp.942-948 (2023)
[5] 尾下拓未, 上野詩翔, 山田悠正, 中塚俊介, 加藤邦人, 相澤宏旭, 林良和:"In-Context Learningを使用した大規模視覚言語モデルによる少数の例示画像付き外観検査", 精密工学会誌, Vol.91, No.3, pp.418-424 (2025)
[6] 上野詩翔, 林良和, 中塚俊介, 加藤邦人, 尾下拓未, 相澤宏旭, "汎用外観検査の性能向上に向けた視覚言語モデルの学習と推論法", 精密工学会誌, Vol.91, No.12, pp.1150-1155 (2025)
[7] Shiryu Ueno, Yoshikazu Hayashi, Shunsuke Nakatsuka, Hiroaki Aizawa, and Kunihito Kato, "Boosting Explainability of General Visual Inspection with a Multi-Head Vision Language Model", Journal of Electronic Imaging, Vol.35, No.3, pp.1-10, 2026.
国際会議
[1] Shunsuke Nakatsuka, Kunihito Kato, Yosuke Nakanishi:"Study on Visual Inspection Method using CNN Regression", Asia International Symposium on Mechatronics, D1-5 (2017)
[2] Kyosuke Komoto, Shunsuke Nakatsuka Hiroaki, Aizawa, Kunihito Kato, Hiroyuki Kobayashi, Kazumi Banno:"A Performance Evaluation of Defect Detection by using Denoising AutoEncoder Generative Adversarial Networks", International Workshop on Advanced Image Technology 2018, Session E2-4 (2018)
[3] Shunsuke Nakatsuka, Hiroaki Aizawa and Kunihito Kato:"A Method of Generation of Normal Model and Discrimination of Defects by Adversarial AutoEncoder under Small Number of Defective Samples", Proceedings of 24th International Workshop on Frontiers of Computer Vision, OS3-1 (2018)
[4] Shunsuke Nakatsuka, Hiroaki Aizawa, Kunihito Kato, "Defective Products Detection using Adversarial AutoEncoder", Proceeding of the International Workshop on Advanced Image Technology 2019 (IWAIT2019), 110490U, https://doi.org/10.1117/12.2521371 (2019)
[5] Keisuke Goto, Kunihito Kato, Shunsuke Nakatsuka, Takaho Saito and Hiroaki Aizawa:"Anomaly Detection of solder joint on print circuit board by using Adversarial Autoencoder", Proc. of the International Conference on Quality Control by Artificial Vision 2019 (QCAV2019), Vol.11172, pp.111720T-1-6 (2019)
[6] Kimiya Murase, Shunsuke Nakatsuka, Mariko Hosoe, Kunihito Kato:"Handwriting Feature Extraction Method for Writer Verification Independent of Character Type by using AdaBN and AdaIN", Proceedings of the SPIE 11515, International Workshop on Advanced Imaging Technology (IWAIT) 2020, 1151504 https://doi.org/10.1117/12.2567065 (2020)
[7] Yusei Yamada, Shiryu Ueno, Takumi Oshita, Shunsuke Nakatsuka, Kunihito Kato:"ACL: Active Curriculum Learning to Reduce Labeling Efforts", Proc. of the International Conference on Quality Control by Artificial Vision 2023 (QCAV2023), pp.141-148 (2023)
[8] Yoshikazu Hayashi, Yoshikazu Hayashi, Hiroaki Aizawa, Shunsuke Nakatsuka:"Fourier Perturbation Analysis for Anomaly Detection Using Fourier Heat Map", Proc. of the International Conference on Quality Control by Artificial Vision 2023 (QCAV2023), Vol.89 (2023)
[9] Shiryu Ueno, Yoshikazu Hayashi, Shunsuke Nakatsuka, Yusei Yamada, Hiroaki Aizawa, and Kunihito Kato:" Vision-Language In-Context Learning Driven Few-Shot Visual Inspection Model", In Proceedings of the 20th International Joint Conference on Computer Vision, Imaging and Computer Graphics Theory and Applications – Volume 2: VISAPP, ISSN 2184-4321, pages 253-260 (2025)
[10] Shiryu Ueno, Yoshikazu Hayashi, Shunsuke Nakatsuka, Hiroaki Aizawa, and Kunihito Kato: "Boosting Explainability of Visual Inspection via Multi-Head Vision Language Model", In Proceedings of the SPIE Conference, Paper No. 13737-6, Tracking No. QC25-QC200-6, QCAV2025 (2025.7.14)
国内会議
[1] 中塚俊介, 加藤邦人, 中西洋輔:"CNNによる回帰分析を用いた打痕判定に関する考察", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2016, pp.204-205 (2016)
[2] 神本恭佑, 中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人, 小林裕幸, 坂野和見:"Denoising Autoencoder Generative Adversarial Networks を用いた欠損検出の検討", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2017, pp.54-55 (2017)
[3] 中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人:"少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と不良判別", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2017, pp.148-149 (2017)
[4] 中塚俊介, 加藤邦人, 中西洋輔:"回帰型CNNを用いた工業製品における外観検査手法の研究", 第22回知能メカトロニクスワークショップ, 3A1-4 (2017.8.28)
[5] 神本恭佑, 中塚俊介, 加藤邦人:"SSIMを用いたAutoEncoderによる欠陥検出の検証", 動的画像処理実利用化ワークショップ DIA2019, OS2-20, pp.346-351 (2019)
[6] 中塚俊介, 加藤邦人:"多重解像度マップを持つ補集合GANを用いた正常データのみの学習による外観検査法", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2019, OS3-H1(IS2-C10) (2019)
[7] 中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人, 後藤圭亮, 稲垣達也, "深層学習を用いた外観検査・異常検知", IAIP 2020年度 第5回研究会, 2021.1.22.
[8] 山田 悠正, 中塚俊介, 加藤 邦人:"能動カリキュラム学習によるアノテーション効率化", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2022, IS3-14, pp.311-316 (2022)
[9] 林 良和, 相澤 宏旭, 中塚 俊介, 加藤 邦人:"Fourier-Convolutional PaDiMによる異常検知", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2022, OS1-O2, pp.10-15 (2022)
[10] 林良和 (岐阜大), 相澤宏旭 (広島大), 中塚俊介, 加藤邦人 (岐阜大), "Fourier Heat Mapによる異常検知手法の性能評価", 第25回 画像の認識・理解シンポジウム MIRU2022 インタラクティブセッション IS3-90 (2022.7.28)
[11] 山田悠正, 尾下拓未, 中塚俊介, 加藤邦人, 上野詩翔, 相澤宏旭, 林良和, "大規模視覚言語モデルのIn-Context Learning による少量データからの外観検査", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2023, OS3-H3(IS3-3), pp.344-351 (2023)
[12] 上野 詩翔, 山田 悠正, 中塚 俊介, "深層能動学習におけるクエリ戦略の有効性調査", 第26回 画像の認識・理解シンポジウム MIRU2023, IS2-45 (2023.7.27)
[13] 上野 詩翔, 尾下 拓未, 中塚 俊介, 加藤 邦人, 林 良和, 相澤 宏旭:"大規模視覚言語モデルによる少量データからの汎用外観検査 ー画像と言語の対応関係が学習に与える影響ー", 第30回画像センシングシンポジウム SSII2024, SO2-05・IS2-05 (2024.6.13)
[14] 上野 詩翔, 林 良和, 中塚 俊介, 加藤 邦人, 尾下 拓未, 相澤 宏旭:"汎用外観検査の性能向上に向けた視覚言語モデルの追加学習と推論", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2024, OS1-H3, pp.42-49 (2024.12.5)
[15] 岡田壮央, 大澤紘作, 尾下拓未, 上野詩翔, 林良和, 中塚俊介, 加藤 邦人, 相澤宏旭, "特定ドメインにおける視覚言語モデルによる欠陥検出精度評価", 第31回 画像センシングシンポジウム SSII2025, IS3-14 (2025.5.30)
特許
[1] 加藤邦人、中塚俊介、相澤宏旭:"異常品判定方法"(特願2017-196758/2017.10.10公開)
[2] 加藤邦人, 中塚俊介, 相澤宏旭, 齊藤岳穂, 高田裕樹, 伊澤仁:"異常品判定方法"(特願2019-73372/2019.4.8出願)
[3] 齊藤岳穂, 加藤邦人, 中塚俊介:"異常判別システムおよびその構築方法"(特願2019-77205/2019.4.15出願)
[4] 林 良和, 相澤 宏旭, 中塚 俊介, 加藤 邦人, "Fourier-Convolutional PaDiMにおける性能向上と異常検知ロバスト性向上"(特願2022-188355/2022.11.28出願)
[5] 加藤邦人, 山田悠正, 尾下拓未, 中塚俊介, 上野詩翔, 相澤宏旭, 林良和, "大規模視覚言語モデルによる外観検査方法"(特願2023-201449/2023.11.29出願)
[6] 加藤邦人, 山田悠正, 尾下拓未, 中塚俊介, 上野詩翔, 相澤宏旭, 林良和, "大規模視覚言語モデルによる外観検査方法および判断根拠生成型推定方法"(PCT/JP2024/ 39341/2024.11.6出願)
受賞
[1] Best Paper Award受賞 Shunsuke Nakatsuka, Kunihito Kato, Yosuke Nakanishi:"Study on Visual Inspection Method using CNN Regression", Proceeding of the 6th Asia International Symposium on Mechatronics, D1-5 (2017年9月15日受賞)
[2] ViEW2017 ビジョン技術の実利用ワークショップ 小田原賞(優秀論文賞), 中塚俊介, 相澤宏旭, 加藤邦人:"少数不良品サンプル下におけるAdversarial AutoEncoderによる正常モデルの生成と不良判別", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2017, pp.148-149 (2017年12月8日 受賞)
[3] ViEW2019 ビジョン技術の実利用ワークショップ 小田原賞(優秀論文賞), 中塚俊介, 加藤邦人:"多重解像度マップを持つ補集合GANを用いた正常データのみの学習による外観検査法", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2019, OS3-H1(IS2-C10) (2019年12月6日 受賞)
[4] ViEW2021 ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW若手奨励賞, 中塚 俊介:"近傍特徴と異常特徴を考慮した事前学習済みモデルによる異常検知", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2021 (2021年12月3日 受賞)
[5] 精密工学会論文賞, 中塚 俊介, 加藤 邦人:"多重解像度マップを持つ補集合GANを用いた正常データのみの学習による外観検査法", 精密工学会誌 (2022年3月14日 受賞)
[6] ViEW2023 ビジョン技術の実利用ワークショップ 小田原賞(優秀論文賞), 山田悠正, 尾下拓未, 中塚俊介, 加藤邦人, 上野詩翔, 相澤宏旭, 林良和:"大規模視覚言語モデルのIn-Context Learningによる少量データからの外観検査", ビジョン技術の実利用ワークショップ ViEW2023 (2023年12月8日 受賞)
[7] SSII2024 第30回画像センシングシンポジウム オーディエンス賞, 上野 詩翔, 尾下 拓未, 中塚 俊介, 加藤 邦人, 林 良和, 相澤 宏旭:"大規模視覚言語モデルによる少量データからの汎用外観検査 ー画像と言語の対応関係が学習に与える影響ー", 第30回画像センシングシンポジウム SSII2024（2024年6月14日 受賞）